Il laboratorio per le prove elettromagnetiche
EL.C.A. dispone di un’area attrezzata per svolgere prove di compatibilità elettromagnetica. Il laboratorio, interno all’azienda, permette di eseguire misurazioni sulle schede elettroniche e sulle apparecchiature complete per valutare i fenomeni di interferenza elettromagnetica EMI (ElectroMagnetic Interference). Questi test sono necessari perché le onde elettromagnetiche possono causare il malfunzionamento dell’impianto elettrico di un dispositivo fino a provocarne il blocco e interferire con le comunicazioni radio. Inoltre, rappresentano un pericolo per la salute e per l’ambiente. Affinché i prodotti possano essere commercializzati in sicurezza, molti paesi hanno reso obbligatoria l’esecuzione di prove di compatibilità elettromagnetica. La direttiva europea 2014/30/UE prevede, infatti, che ogni dispositivo elettrico o elettronico commercializzato nell’Unione Europea sia elettromagneticamente compatibile con l’ambiente circostante, rispettando i livelli di emissioni elettromagnetiche consentiti, senza generare disturbi elettromagnetici intollerabili.
Nel laboratorio di EL.C.A. vengono realizzate prove pre-compliance secondo le norme armonizzate europee. Nello specifico, vengono eseguiti test con disturbi di tipo condotto (BURST, SURGE, buchi di tensione) secondo gli standard IEC 61000-4-4, IEC 61000-4-5, IEC 61000-4-11, IEC 61000-6-1, IEC 61000-6. Questi test permettono di verificare il corretto funzionamento e il comportamento delle schede e delle apparecchiature elettroniche quando sono sottoposte a disturbi elettromagnetici dovuti alla rete di alimentazione elettrica. Vengono inoltre verificati i disturbi immessi dal prodotto nella rete elettrica.
Un altro tipo di prova che viene analizzata dal laboratorio EM sono i test con scariche elettrostatiche superficiali, secondo lo standard IEC 61000-4-2. Questa verifica consente di accertare che le schede elettroniche e le apparecchiature siano adeguatamente protette. Scariche elettrostatiche incontrollate possono causare guasti o provocare difetti nascosti negli apparecchi elettronici (dispositivi a semiconduttori).